工业CT无损检测原理详解：从X射线到三维重建

看不见的内部缺陷，正在悄悄吃掉您的利润您是否遇到过这样的情况：一批精密铸件在最终机加工后才发现内部气孔，导致整批报废？或者，一个关键的焊接件在疲劳测试中突然断裂，却始终找不到裂纹的起点？传统的检测方法

半导体芯片常用失效分析方法

北软失效分析赵工 半导体工程师 2021-12-17 10:11 显微镜分析OM 无损检测:蔡司金相显微镜OM服务介绍：可用来进行器件外观及失效部位的表面形状，尺寸，结构，缺陷等观察。金相显微镜系统是